Search In this Thesis
   Search In this Thesis  
العنوان
STUDY OF OPTICAL THIN SEMICONDUCTOR FILMS
الناشر
Zagazig University
المؤلف
Hassanien, Ahmed Saeed El Sayed
هيئة الاعداد
باحث / احمد سعيد السيد حسانين
مشرف / بيومى طرطور
مشرف / M.M. El-Ocker
مشرف / M.M. El-Ocker
الموضوع
Thin Semiconductor Films Optical Properties
تاريخ النشر
1992
اللغة
الإنجليزية
الدرجة
ماجستير
التخصص
الفيزياء النووية والطاقة العالية
تاريخ الإجازة
1/1/1992
مكان الإجازة
جامعة الزقازيق - كلية العلوم - فيزياء
الفهرس
Only 14 pages are availabe for public view

from 156

from 156

Abstract

Film thicknedd have been determined using multiplebeam Fizeau fringes at reflection. The thickness of the films ranged between 600Å and 1800Å. X-ray diffraction patterns reveal that the bulk and film samples are polycrystalline. Optical transmission and reflection (T and R)have been studied, and it was found that no bands were observed in both (T and R) altough the absorption edge is observed in the UV-region in all samples.